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三维形貌测量系统

栅线投影三维形貌测量系统可用于物体表面三维形貌测量。要求系统具有相移功能,采用正弦栅线相移投影器,能满足细观及宏观的测量要求。采用进口3自由度样品调节台及升降架。

生产厂家:卓力特光电仪器(苏州)有限公司

号:SD-302

价:12.8万元

人:蒋明

性能指标:

1. 有效测量面积:细观 0.5×0.7mm2 5.0×7.0mm2;宏观 100×140mm2 1000×1400mm2

2. 测量分辨率:优于1/20级光栅

3. 实时条纹显示速度:≥ 20/s

4. 图像采集分辨率:≥ 576×768

5. CCDC接口,信噪比 ≥ 56dB,配进口12.575mm手动变焦镜头

6. 细观测量采用Optem 10 倍手动变焦镜头

7. 软件:相移三维形貌测量处理软件

8. 采用进口图像采集卡

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